X射線綜合測(cè)試體模
X射線綜合測(cè)試體模
是一種用于檢測(cè)和測(cè)試X射線成像設(shè)備性能的工具。這些體模通常包括多個(gè)模塊,可以檢測(cè)設(shè)備的各種性能參數(shù),如空間分辨率、低對(duì)比度分辨率、動(dòng)態(tài)范圍等。以下是一些關(guān)于X射線綜合測(cè)試體模的信息:
檢測(cè)參數(shù)
空間分辨率:測(cè)試范圍通常為0.6lp/mm~5.0lp/mm。
低對(duì)比度分辨率:測(cè)試范圍通常為0.5%~7.6%。
動(dòng)態(tài)范圍:測(cè)試范圍通常為1/16~16。
01
更新日期
2024-04-1502
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家03
瀏覽量
493